薄膜放卷平整度檢測(cè)是一項(xiàng)關(guān)鍵任務(wù)，傳統(tǒng)的人工成本高且測(cè)量精度有限。

將激光位移傳感器安裝在薄膜的正上方，通過(guò)持續(xù)輸出距離數(shù)據(jù)至上位機(jī)，再對(duì)比薄膜通過(guò)時(shí)的距離數(shù)據(jù)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)片料平整度的準(zhǔn)確檢測(cè)。例如，F(xiàn)SD22-30N-UI型號(hào)具有10um的重復(fù)精度，能夠滿足對(duì)薄膜平整度的高要求。